1通道。
輸入（稱重傳感器輸出）：0.0~3.3m V/V。
輸出（分辨率）：0~10000。
轉(zhuǎn)換速度：10ms。
18點(diǎn)端子排。
可與所有類型的稱重傳感器直接連接的稱重傳感器輸入模塊QD75P2N怎么調(diào)試。
稱重傳感器現(xiàn)在可直接連接至可編程控制器系統(tǒng)，
無需在外部連接信號(hào)轉(zhuǎn)換器等。
通過保證稱重傳感器精度的穩(wěn)定數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換速度，
實(shí)現(xiàn)了高精準(zhǔn)的測量QD75P2N
無需外部信號(hào)轉(zhuǎn)換器！
將稱重傳感器輸入模塊直接連接至可編程控制器，可降低工時(shí)和成本！
可連接磁致伸縮型、電容式、回轉(zhuǎn)儀或應(yīng)變儀等各種類型的稱重傳感器QD75P2N怎么調(diào)試。
可連接6線系統(tǒng)（結(jié)合了遙感技術(shù)和比率計(jì)法）或4線系統(tǒng)稱重傳感器。輸出點(diǎn)數(shù)：16點(diǎn)。
輸出電壓及電流：DC12~24V；0.5A/點(diǎn)；4A公共端。
OFF時(shí)漏電流：0.1mA。
應(yīng)答時(shí)間：1ms。
16點(diǎn)1個(gè)公共端。
漏型。
18點(diǎn)端子臺(tái)。
帶浪涌吸收器。
帶保險(xiǎn)絲。
高速處理，生產(chǎn)時(shí)間縮短，更好的性能。
隨著應(yīng)用程序變得更大更復(fù)雜，縮短系統(tǒng)運(yùn)行周期時(shí)間是非常必要的。
通過高的基本運(yùn)算處理速度1.9ns，可縮短運(yùn)行周期。
除了可以實(shí)現(xiàn)以往與單片機(jī)控制相聯(lián)系的高速控制以外，
還可通過減少總掃描時(shí)間，提高系統(tǒng)性能，
防止任何可能出現(xiàn)的性能偏差。
方便處理大容量數(shù)據(jù)。
以往無法實(shí)現(xiàn)標(biāo)中安裝了8MB SRAM擴(kuò)展卡，
可將標(biāo)準(zhǔn)RAM作為一個(gè)連續(xù)的文件寄存器，
容量多可達(dá)4736K字，從而簡化了編程QD75P2N怎么調(diào)試。
因此，即使軟元件存儲(chǔ)器空間不足，
也可通過安裝擴(kuò)展SRAM卡，方便地?cái)U(kuò)展文件寄存器區(qū)域。
變址寄存器擴(kuò)展到了32位，從而使編程也可越了傳統(tǒng)的32K字，
并實(shí)現(xiàn)變址修飾擴(kuò)展到文件寄存器的所有區(qū)域。
另外，變址修飾的處理速度對(duì)結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)（陣列）的運(yùn)算起著重要作用，
該速度現(xiàn)已得到提高。
當(dāng)變址修飾用于反復(fù)處理程序（例如從FOR到NEXT的指令等）中時(shí)，可縮短掃描時(shí)間。
借助采樣跟蹤功能縮短啟動(dòng)時(shí)間
利用采樣跟蹤功能，方便分析發(fā)生故障時(shí)的數(shù)據(jù)，
檢驗(yàn)程序調(diào)試的時(shí)間等，可縮短設(shè)備故障分析時(shí)間和啟動(dòng)時(shí)間。
此外，在多CPU系統(tǒng)中也也有助于確定CPU模塊之間的數(shù)據(jù)收發(fā)時(shí)間QD75P2N用戶指南手冊(cè)。
可用編程工具對(duì)收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分分析，
并以圖表和趨勢(shì)圖的形式方便地顯示位軟元件和字軟元件的數(shù)據(jù)變化QD75P2N用戶指南手冊(cè)。
并且,可將采樣跟蹤結(jié)果以GX LogViewer形式的CSV進(jìn)行保存，
通過記錄數(shù)據(jù)顯示、分析工具GX LogViewer進(jìn)行顯示。